Найдены документы по автору

Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем / О. П. Глудкин

• Интернет стиль
• Карточка

Заглавие : Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем: учеб. пособ. для вузов Тип документа : печатный текст Авторы : О. П. Глудкин, Автор; В. Н. Черняев, Автор Издательство : Энергия (М.) Дата публикации : 1980 Страницы : 360 с Цена : 1р.00к.   Индексация : 32.8 Г55

Бронирование Забронировать этот документ Экземпляры Штрих-код Индекс Положение Отдел Статус 14940001  32.8 Г55  15 фил  3.Техника (3)  В наличии

Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем [печатный текст] : учеб. пособ. для вузов / О. П. Глудкин, Автор; В. Н. Черняев, Автор . - М. : Энергия, 1980 . - 360 с. 1р.00к.   Индексация : 32.8 Г55

Бронирование Забронировать этот документ Экземпляры Штрих-код Индекс Положение Отдел Статус 14940001  32.8 Г55  15 фил  3.Техника (3)  В наличии