Найдены документы по автору

Всеобщее управление качеством

• Интернет стиль
• Карточка

Заглавие : Всеобщее управление качеством: Учеб.для вузов Тип документа : печатный текст Авторы : Ю. В. Зорин; А. И. Гуров; Н. М. Горбунов; О. П. Глудкин, Корректор рукописи Издательство : Горячая линия-Телеком (М.) Дата публикации : 2001 Страницы : 599 с. ил. : ил. Цена : 168р.00к. Язык : рус.   Индексация : 65.30-80я73 В84

Бронирование Забронировать этот документ Экземпляры Штрих-код Индекс Положение Отдел Статус 102122001  102122001  6 фил  1.Социальные и общ.-гуманит. (6/8,9)  В наличии 102122002  102122002  15 фил  1.Социальные и общ.-гуманит. (6/8,9)  В наличии 102122003  102122003  8 фил  1.Социальные и общ.-гуманит. (6/8,9)  В наличии 102122004  102122004  КХ  1.Социальные и общ.-гуманит. (6/8,9)  В наличии

Всеобщее управление качеством [печатный текст] : Учеб.для вузов / Ю. В. Зорин; А. И. Гуров; Н. М. Горбунов; О. П. Глудкин, Корректор рукописи . - М. : Горячая линия-Телеком, 2001 . - 599 с. : ил.. 168р.00к.   Индексация : 65.30-80я73 В84

Бронирование Забронировать этот документ Экземпляры Штрих-код Индекс Положение Отдел Статус 102122001  102122001  6 фил  1.Социальные и общ.-гуманит. (6/8,9)  В наличии 102122002  102122002  15 фил  1.Социальные и общ.-гуманит. (6/8,9)  В наличии 102122003  102122003  8 фил  1.Социальные и общ.-гуманит. (6/8,9)  В наличии 102122004  102122004  КХ  1.Социальные и общ.-гуманит. (6/8,9)  В наличии

Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем / О. П. Глудкин

• Интернет стиль
• Карточка

Заглавие : Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем: учеб. пособ. для вузов Тип документа : печатный текст Авторы : О. П. Глудкин, Автор; В. Н. Черняев, Автор Издательство : Энергия (М.) Дата публикации : 1980 Страницы : 360 с Цена : 1р.00к.   Индексация : 32.8 Г55

Бронирование Забронировать этот документ Экземпляры Штрих-код Индекс Положение Отдел Статус 14940001  32.8 Г55  15 фил  3.Техника (3)  В наличии

Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем [печатный текст] : учеб. пособ. для вузов / О. П. Глудкин, Автор; В. Н. Черняев, Автор . - М. : Энергия, 1980 . - 360 с. 1р.00к.   Индексация : 32.8 Г55

Бронирование Забронировать этот документ Экземпляры Штрих-код Индекс Положение Отдел Статус 14940001  32.8 Г55  15 фил  3.Техника (3)  В наличии